Instrospect 推出全球首個 GDDR7 記憶體測試系統

本站3 月28 日訊息，Introspect Technology 宣布推出全球首個GDDR7 顯存測試系統，支援大規模並行、72 頻道、40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 測試，號稱可為顯存和GPU製造商提供最快的上市速度。

Introspect 已交付了M5512 GDDR7 記憶體測試系統，號稱是世界上第一個用於測試JEDEC 全新JESD239 圖形雙倍資料速率（GDDR7） SGRAM 規範的商業解決方案。

該系統使圖形顯存工程師、GPU 設計工程師、顯存和GPU 領域的產品工程師以及系統集成商能夠快速啟動新的GDDR7 顯存設備、調試協議錯誤、表徵信號完整性，並執行詳細的顯存讀/ 寫入功能壓力測試，而無需任何其他工具。

固態技術協會JEDEC 於 3 月 6 日正式發表JESD239 GDDR7 記憶體標準，JESD239 GDDR7 提供的頻寬是 GDDR6 的兩倍，每台裝置最高可達 192 GB/s。

JESD239 GDDR7 是第一個使用脈幅調變（Pulse Amplitude Modulation，PAM）介面進行高頻操作的 JEDEC 標準 DRAM。其 PAM3 介面提高了高頻操作的信噪比（SNR），同時提高了能源效率。透過使用3 個等級（ 1，0，-1）在2 個循環上傳輸3 個比特，而傳統的NRZ（不歸零）介面在2 個週期上傳輸2 個比特，PAM3 提供了更高的每循環資料傳輸速率，從而提高了效能。

M5512 GDDR7 記憶體測試系統是一款桌上型測試和測量儀器，它包含 72 個高效能引腳，每個引腳都能夠在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度運作。每個引腳都包含用於執行讀寫操作的雙向電路，並且每個引腳都包含一整套類比表徵功能。

AMD、美光、英偉達、三星、SK 海力士都對 GDDR7標準表示了支援。三星在英偉達 GTC 2024 大會上展示GDDR7 顯存之後，型號為 K4VAF325ZC-SC32 與 K4VAF325ZC-SC28 的兩款顯存顆粒現已上線三星半導體官網，分別達28Gbps / 32Gbps 速率，單顆容量。

SK 海力士則表示正在研發速度更快的顯存模組，目標定在了更高的 40Gbps。

預計在年底上市的英偉達 RTX 50 系列顯示卡將是首批採用 GDDR7 顯存的產品，本站小夥伴可以期待後續消息。

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